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絕緣材料測試儀器

高阻計擊穿電壓測定儀表面體積電阻率測試儀耐電弧測試儀高壓/漏電起痕試驗儀低壓/漏電起痕試驗儀導電與防靜電材料電阻率介電常數(shù)介質(zhì)損耗測試儀高溫直流測試系統(tǒng)

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絕緣材料耐電弧試驗機設備*HCDH-III

更新時間：2025-01-02

型號：

瀏覽量：2267

絕緣材料耐電弧試驗機設備*HCDH-III符合GB/T 1411-2002 《干固體絕緣材料耐高電壓、小電流電弧放電的試驗》符合IPC650、IEC61621、ASTMD495及JEC149、UL746A試驗方法。
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小電流介質(zhì)材料耐電弧試驗儀HCDH-III

更新時間：2025-01-02

型號：

瀏覽量：3422

小電流介質(zhì)材料耐電弧試驗儀HCDH-III符合GB/T 1411-2002 《干固體絕緣材料耐高電壓、小電流電弧放電的試驗》符合IPC650、IEC61621、ASTMD495及JEC149、UL746A試驗方法。
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計算機控制耐電弧試驗儀HCDH-III測試儀器

更新時間：2025-01-02

型號：

瀏覽量：2267

計算機控制耐電弧試驗儀HCDH-III測試儀器適應于電機、電器及家電等行業(yè)的電工用塑料、樹脂膠、絕緣漆、以及層壓板、覆銅箔板等絕緣材料等介質(zhì)的耐電弧測試
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小電流絕緣漆耐電弧試驗儀*HCDH-III

更新時間：2025-01-02

型號：

瀏覽量：3900

小電流絕緣漆耐電弧試驗儀*HCDH-III符合GB/T 1411-2002 《干固體絕緣材料耐高電壓、小電流電弧放電的試驗》符合IPC650、IEC61621、ASTMD495及JEC149、UL746A試驗方法。
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HCTZ-2S讀數(shù)穩(wěn)定手持式四探針測試儀器

更新時間：2024-06-13

型號：HCTZ-2S

瀏覽量：1626

讀數(shù)穩(wěn)定手持式四探針測試儀器可測量片狀、塊狀半導體材料的徑向和軸向電阻率及擴散層的薄層電阻，適用于半導體和太陽能材料測試的要求，也可對分立電阻進行測量，USB接口可為用戶提供遠程控制及測試數(shù)據(jù)的統(tǒng)計和分析。由于采用了電池和外接電源兩種供電方式，既能適應固定場合對元器件進行檢測，又可隨身攜帶以滿足測試人員的現(xiàn)場測試要求。
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HCTZ-2S自動修正手持式四探針測試儀器

更新時間：2024-06-13

型號：HCTZ-2S

瀏覽量：1318

自動修正手持式四探針測試儀器可測量片狀、塊狀半導體材料的徑向和軸向電阻率及擴散層的薄層電阻，適用于半導體和太陽能材料測試的要求，也可對分立電阻進行測量，USB接口可為用戶提供遠程控制及測試數(shù)據(jù)的統(tǒng)計和分析。由于采用了電池和外接電源兩種供電方式，既能適應固定場合對元器件進行檢測，又可隨身攜帶以滿足測試人員的現(xiàn)場測試要求。
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HCTZ-2S液晶顯示手持式四探針測試儀器

更新時間：2024-06-13

型號：HCTZ-2S

瀏覽量：1508

液晶顯示手持式四探針測試儀器，可測量片狀、塊狀半導體材料的徑向和軸向電阻率及擴散層的薄層電阻，適用于半導體和太陽能材料測試的要求，也可對分立電阻進行測量，USB接口可為用戶提供遠程控制及測試數(shù)據(jù)的統(tǒng)計和分析。由于采用了電池和外接電源兩種供電方式，既能適應固定場合對元器件進行檢測，又可隨身攜帶以滿足測試人員的現(xiàn)場測試要求。
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Huace-991靜電塑料導電材料體積電阻率試驗裝置

更新時間：2023-12-19

型號：Huace-991

瀏覽量：1321

靜電塑料導電材料體積電阻率試驗裝置：在測量導電材料電阻率若采用三電極或二電極測量時會因為電極與被測量材料表面電阻而影響測量準確性，本裝置采用四電極（四點探針或四探針）法測量導電和防靜電材料體積電阻率，可以克服表面接觸電阻造成的誤差影響。
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