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熱釋電系數(shù)測試儀基于熱釋電動態(tài)電流法設(shè)計，由溫度控制器、加熱爐體、微電流放大器、溫度測試儀以及計算機(jī)軟件系統(tǒng)組成。溫度控制器控制加熱爐體內(nèi)部溫度；樣品的電流信號通過微電流放大器、輸入到計算機(jī)；而溫度信號則直接通過溫度測試儀傳送到計算機(jī)。能測量具有熱釋電的單晶、陶瓷、厚膜及薄膜材料...

產(chǎn)品名稱：表面體積電阻率測試儀（高阻計）=產(chǎn)品新：1、全新升級面板；外觀美觀；2、增加觸摸屏、清晰明了；3、增加電源操作指示燈；4、按鍵操作方便、快捷；5、全新產(chǎn)品測試范圍廣、穩(wěn)定；6、電流采集功能可單獨(dú)使用；一、產(chǎn)品介紹：表面體積電阻率既可測量超高電阻，又可測極微弱電流。采用了...

各位客戶及同仁朋友，根據(jù)《國務(wù)院辦公廳關(guān)于2022年部分節(jié)假日安排的通知》及本公司福利政策，我司2022年元旦放假有關(guān)事宜通知如下：一、2022年1月1日(星期六)至1月3日(星期一)放假，共三天；1月4日(星期二)照常上班。二、各部門、各辦公室要落實(shí)好工作責(zé)任制，防火防盜，避免...

電弱點(diǎn)測試儀試驗(yàn)電壓是0－20kV交直流電壓，其波動為±1%。電弱點(diǎn)測試儀在試樣弱點(diǎn)擊穿后約0.1s內(nèi)使電壓回升到原來設(shè)定的電壓。銅輥為下電極，導(dǎo)電橡膠為上電極。薄膜以3m/min的速度移動。遇弱點(diǎn)時擊穿，擊穿點(diǎn)自動累積計數(shù)。膜移動以平方數(shù)自動計數(shù)。電弱點(diǎn)測試儀是根...

電弱點(diǎn)測試儀是根據(jù)GB/T13542-92、IEC60674-2:1988電氣用塑料薄膜標(biāo)準(zhǔn)要求設(shè)計的高壓試驗(yàn)裝置。主要用于電氣用聚氨脂薄膜、塑料薄膜、聚丙烯薄膜等絕緣材料早給定直流電壓下每平方的擊穿點(diǎn)數(shù)。本機(jī)采用計算機(jī)控制，可對實(shí)驗(yàn)過程中的各種數(shù)據(jù)進(jìn)行快速、采集、處理，并可存取...

高溫四探針測試儀可以實(shí)現(xiàn)高溫、真空及惰性氣氛條件下測量硅、鍺單晶（棒料、晶片）電阻率和外延層、擴(kuò)散層和離子注入層的方塊電阻以及測量導(dǎo)電玻璃（ITO）和其他導(dǎo)電薄膜的方塊電阻。高溫四探針測試儀是測量電阻率的一種方法，測量電阻率的方法很多，如三探針法、電容-電壓法、擴(kuò)展電阻法等，四探...